—— PROUCTS LIST
—— NEWS
介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀檢測(cè)試驗(yàn)機(jī)
簡(jiǎn)要描述:介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀檢測(cè)試驗(yàn)機(jī)調(diào)諧電容:主電容30-500PF調(diào)諧電容誤差和分辨率 ±1.5P或<1%< p=““>Q測(cè)量范圍:1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程Q測(cè)量工作誤差<5%< p=““>
更新時(shí)間:2024-07-17
產(chǎn)品型號(hào):GDAT-A
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:764
品牌 | 北廣精儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-2萬(wàn) |
---|---|---|---|
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電氣,綜合 |
介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀檢測(cè)試驗(yàn)機(jī)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗作為材料一項(xiàng)重要的性能指標(biāo),可以反映電介質(zhì)內(nèi)部的介電馳豫過(guò)程,也 就是電介質(zhì)對(duì)外加電場(chǎng)的響應(yīng)過(guò)程,它是了解聚合 物高分子結(jié)構(gòu)和有關(guān)材料性能的重要手段,對(duì)研究 固體中的空間電荷和晶體中的缺陷有重要意義,而 且材料和器件的老化現(xiàn)象也與長(zhǎng)時(shí)間弛豫效應(yīng)有 關(guān)。介電弛豫有兩種主要機(jī)理:一種是體系中的取 向極化;另一種是系統(tǒng)中存在許多微觀的亞穩(wěn)態(tài), 由一個(gè)亞穩(wěn)態(tài)過(guò)渡到另一亞穩(wěn)態(tài)或基態(tài)需跨越位 壘,過(guò)渡時(shí)間與位壘高度有關(guān)。對(duì)聚合物/無(wú)機(jī)納米 (或微米)復(fù)合電介質(zhì)來(lái)說(shuō),聚合物基體、無(wú)機(jī)顆粒、 界面區(qū)域三部分的電學(xué)性質(zhì)不同,它們都有可 能引起不同性質(zhì)的極化。另外電介質(zhì)與電極的界 面處也可能產(chǎn)生極化。對(duì)不同的填充物,起主導(dǎo)作 用的極化過(guò)程也不一樣[5]。在純環(huán)氧樹(shù)脂材料中添 加微米Al2O3填料可以顯著改善材料的熱導(dǎo)率和耐 電樹(shù)枝生長(zhǎng)等性能,對(duì)電氣設(shè)備的運(yùn)行可靠性起著重要作用.
介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀檢測(cè)試驗(yàn)機(jī)絕緣塑料橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀全數(shù)字化界面和微機(jī)控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測(cè)Q值甚至tanδ,無(wú)須關(guān)注量程和換算,摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無(wú)疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測(cè)量的理想工具。
絕緣塑料橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀高頻介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由BH916測(cè)試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過(guò)測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究
應(yīng)用范圍:
測(cè)量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)
技術(shù)參數(shù):
信號(hào)源:DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz
調(diào)諧電容:主電容30-500PF
調(diào)諧電容誤差和分辨率 ±1.5P或<1%< p="">
Q測(cè)量范圍:1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q測(cè)量工作誤差<5%< p="">
Q分辨率:4位有效數(shù),分辨率0.1
儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。
大電容值直接測(cè)量顯示。
數(shù)顯微測(cè)量裝置,直接讀值。
參照國(guó)標(biāo)
GB/T 1693-2007
測(cè)試頻率范圍為(10KHZ-110MHZ)
新增功能:
1、電感測(cè)試時(shí),儀器自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能。大大提高了在電感值(特別是小電感值)測(cè)量時(shí)的精度
2、大電容值直接測(cè)量顯示功能,電容值直接測(cè)量值可達(dá)2.5uF(配100uH電感時(shí))。大電容值測(cè)量一個(gè)按鍵搞定。
測(cè)試注意事項(xiàng):
1.本儀器應(yīng)水平安放;
2.如果你需要較地測(cè)量,請(qǐng)接通電源后,預(yù)熱30分鐘;
3.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開(kāi)關(guān)時(shí),當(dāng)接近諧振點(diǎn)時(shí)請(qǐng)緩調(diào);
4.被測(cè)件和測(cè)試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來(lái)的測(cè)量誤差;
5.被測(cè)件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
6.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。
如果你對(duì)GDAT-A介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀檢測(cè)試驗(yàn)機(jī)感興趣,想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息,填寫(xiě)下表直接與廠家聯(lián)系: |